Лабораторные профилометры

В технике измерения поверхности существует разграничение между мобильными приборами, стационарными приборами для цеховых условий и системами для измерения поверхностей на базе ПК. Эта последняя группа представляет собой самые передовые средства измерения и оценки поверхностей. Они отвечают всем требованиям, применимым к современным системам измерения и обработки результатов на базе ПК. В настоящее время важными отличительными характеристиками систем на базе ПК стали соответствие международным стандартам, универсальные методы оценки, исчерпывающее документирование, большая емкость хранения, экспорт и импорт данных и сетевое подключение к другим системам. Всесторонние процедуры контроля качества гарантируют высочайший уровень качества и устойчивости программного и аппаратного обеспечения.

MarSurf XR 1

MarSurf XR 1. Идеальное решение при выборе недорогой, простой в освоении и использовании технологии измерения поверхности.Данный прибор на базе ПК позволяет проводить измерения всех распространенных параметров поверхностей и профилей в соответствии с требованиями международных стандартов как на производственном участке, так и в измерительной лаборатории. В приборе MarSurf XR 1 от компании Mahr используется инновационное программное обеспечение для оценки шероховатости.

Блоки привода и щупы:
• Опорное или безопорное трассирование
• Блоки привода MarSurf RD 18 или MarSurf SD 26

Данный прибор на базе ПК позволяет проводить измерения всех распространенных параметров поверхностей и профилей в соответствии с требованиями международных стандартов как на производственном участке, так и в измерительной лаборатории. В приборе MarSurf XR 1 от компании Mahr используется инновационное программное обеспечение для оценки шероховатости MarSurf. Более 80 измеряемых параметров поверхности для R-, P- и W-профилей в соответствии с действующими стандартами ISO/JIS или MOTIF (ISO 12085) Полосовой фильтр Ls в соответствии с действующим стандартом; при необходимости фильтр Ls также можно отключить или изменить. Методы машинного обучения для быстрого создания программ измерения Автоматические функции выбора шага отсечки и базовой длины в соответствии со стандартами (запатентованные) Поддержка различных способов калибровки (статический/динамический) с помощью выбора параметра Ra или Rz Настраиваемые интервалы технического обслуживания и калибровки Несколько конфигураций измерительной станции для специализированных областей применения Диапазон дополнительных компонентов, обеспечивающих гибкость системы Различные уровни пользователей обеспечивают защиту прибораот не правильного использования и предотвращают использование приборов сотрудниками, не имеющимеющими права доступа

MarSurf XR 20

MarSurf XR 20 – идеальный вход в высший класс систем измерения параметров поверхности. Измерительная система на базе ПК позволяет получить все используемые параметры и профили поверхности в соответствии с международными стандартами как в условиях измерительных лабораторий, так и на производстве. Высокопроизводительная система MarSurf XR 20 сочетает в себе десятилетия опыта в области измерения поверхностей и инновационную технологию, интуитивный интерфейс и удобство управления.

Более 100 измеряемых параметров поверхности для R-, P- и
W- профилей в соответствии со стандартами ISO/JIS, ASME или MOTIF
Отслеживание допусков и статистика для всех
параметров поверхности Обучающий режим для быстрого
создания измерительных программ
Подробные протоколы измерения
Автоматические функции выбора фильтра и длины трассирования
(базовой длины) в соответствии с международными стандартами
Поддержка различных способов калибровки
(статический/динамический) с помощью выбора параметра Ra или Rz
Настраиваемые интервалы технического обслуживания и калибровки
Режим моделирования для быстрого ознакомления
с принципом работы

MarSurf CWM 100

MarSurf CWM 100 — прецизионный оптический измерительный прибор с компьютерным управлением MarSurf CWM 100 с субнанометровым разрешением. Комбинированная измерительная трехмерная система, в состав которой входит конфокальный микроскоп и интерферометр белого света.

Высочайшая точность с субнанометровой разрешающей способностью
Универсальная применяемость для технических, оптических и отражающих поверхностей. Кроме того, этот измерительный прибор подходит для измерения печатных плат, полупроводниковых изделий и биологических тканей.Двухмерный анализ поверхности и оценка измерений.Топографический трехмерный анализ поверхности и оценка измерений.Интеллектуальные стратегии измерения — быстрые измерения — экономия времени.Простота увеличения размеров поля изображения, полученного с помощью микроскопа,за счет полностью автоматического сшивания.Автоматическое позиционирование стола или объекта измерений: 100 x 100 мм, по запросу предоставляются принадлежности для позиционирования на большие расстояния.Широкий ассортимент объективов позволяет подобрать идеальный вариант для объекта измерения.Монолитная конструкция с гранитной плитой основания и гранитной колонкой для наилучшего подавления вибраций.Профессиональное программное обеспечение оценки на основе MountainsMap©

В комплекте поставки:
Система датчика, в которую входит:
– Конфокальный микроскоп KFM с турелью на 6 объективов
– Камера 768 точек x 582 точек, до 48 кадров/с (стандартное исполнение)
– Управляемая ЧПУ ось Z со стеклянной линейкой Heidenhain
– Системное программное обеспечение WLI и конфокальные программные модули
– Гранитные основание и колонна с системой датчика управляемым ЧПУ предметным столом
– Моторизованный привод оси Z и двухкоординатного стола для позиционирования датчика и сшивания поля зрения
– Объективы (дополнительно): – 4x -150x (конфокальный микроскоп) – 2.5x to 100x (интерферометр белого света)